GB/T 10193-1997 电子设备用压敏电阻器 第1部分:总规范
>全国电子设备用阻容元件标准化技术委员会
GB/T 5095.5-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验（自由元件）、静负荷试验（固定元件）、寿命试验和过负荷试验
>全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
GB/T 5095.7-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分:机械操作试验和密封性试验
>全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
GB/T 5095.2-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验
>全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
GB/T 5095.1-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分:总则
>全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验
>全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
GB/T 12865-1997 电子设备用压电陶瓷滤波器 电子元器件质量评定体系规范 第2部分:分规范 鉴定批准 第一篇:空白详细规范 评定水平E
>全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
GB/T 13265.1-1997 纤维光学隔离器 第1部分:总规范
>工业和信息化部（电子）
GB/T 17025-1997 电子设备用电位器 第4部分:分规范 单圈旋转功率电位器
>全国电子设备用阻容元件标准化技术委员会
GB/T 17028-1997 电子设备用电位器 第5部分:空白详细规范 单圈旋转低功率电位器 评定水平E
>全国电子设备用阻容元件标准化技术委员会
GB/T 16878-1997 用于集成电路制造技术的检测图形单元规范
>全国半导体设备和材料标准化技术委员会
GB/T 16880-1997 光掩模缺陷分类和尺寸定义的准则
>全国半导体设备和材料标准化技术委员会
GB/T 16879-1997 掩模曝光系统精密度和准确度的表示准则
>全国半导体设备和材料标准化技术委员会
GB/T 16894-1997 大于100A，环境和管壳额定的整流二极管（包括雪崩整流二极管）空白详细规范
>全国半导体器件标准化技术委员会
GB/T 16822-1997 介电晶体介电性能的试验方法
>工业和信息化部（电子）
GB/T 3047.8-1996 高度进制为44.45mm的窄柜基本尺寸系列
>全国电工电子设备结构综合标准化技术委员会
GB/T 2987-1996 电子管参数符号
>全国电真空器件标准化技术委员会
GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
>全国半导体器件标准化技术委员会
