GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法
全国集成电路标准化技术委员会
GB/T 36479-2018 集成电路 焊柱阵列试验方法
全国集成电路标准化技术委员会
GB/T 36359-2018 半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范
工业和信息化部（电子）
GB/T 36356-2018 功率半导体发光二极管芯片技术规范
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GB/T 36357-2018 中功率半导体发光二极管芯片技术规范
工业和信息化部（电子）
GB/T 36358-2018 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范
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GB/T 36360-2018 半导体光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范
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GB/T 6346.2601-2018 电子设备用固定电容器 第26-1部分：空白详细规范 导电高分子固体电解质铝固定电容器 评定水平EZ
全国电子设备用阻容元件标准化技术委员会
GB/T 36362-2018 LED应用产品可靠性试验的点估计和区间估计（指数分布）
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GB/T 36361-2018 LED加速寿命试验方法
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GB/T 36474-2018 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 （DDR3 SDRAM）测试方法
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GB/T 35086-2018 MEMS电场传感器通用技术条件
全国微机电技术标准化技术委员会
GB/T 6346.25-2018 电子设备用固定电容器 第25部分：分规范 表面安装导电高分子固体电解质铝固定电容器
全国电子设备用阻容元件标准化技术委员会
GB/T 35010.4-2018 半导体芯片产品 第4部分：芯片使用者和供应商要求
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GB/T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法
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GB/T 35010.3-2018 半导体芯片产品 第3部分：操作、包装和贮存指南
全国集成电路标准化技术委员会
GB/T 36005-2018 半导体照明设备和系统的光辐射安全测试方法
全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会
GB/T 22319.9-2018 石英晶体元件参数的测量 第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量
全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
GB/T 22319.11-2018 石英晶体元件参数的测量 第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法
全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
GB/T 6346.2501-2018 电子设备用固定电容器 第25-1部分：空白详细规范 表面安装导电高分子固体电解质铝固定电容器 评定水平EZ
全国电子设备用阻容元件标准化技术委员会
