GB/T 21548-2021 光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法
全国通信标准化技术委员会
GB/T 40030-2021 电子电气产品中中链氯化石蜡的检测方法
全国电工电子产品与系统的环境标准化技术委员会
GB/T 40031-2021 电子电气产品中多氯化萘的测定 气相色谱-质谱法
全国电工电子产品与系统的环境标准化技术委员会
GB/T 33351.2-2021 电子电气产品中砷、铍、锑的测定 第2部分：电感耦合等离子体发射光谱法
全国电工电子产品与系统的环境标准化技术委员会
GB/T 39771.1-2021 半导体发光二极管光辐射安全 第1部分：要求与等级分类方法
工业和信息化部（电子）
GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减
全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
GB/T 7092-2021 半导体集成电路外形尺寸
全国集成电路标准化技术委员会
GB/T 39863-2021 覆铜板用氧化铝陶瓷基片
全国工业陶瓷标准化技术委员会
GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比
全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
GB/T 5095.2307-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分：屏蔽和滤波试验 试验23g：连接器的有效转移阻抗
全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
GB/T 39771.2-2021 半导体发光二极管光辐射安全 第2部分：测试方法
工业和信息化部（电子）
GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）
全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗
全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延
全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
GB/T 5095.2507-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR）
全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
GB/T 5095.2304-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分：屏蔽和滤波试验 试验23d：时域内传输线的反射
全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
GB/T 39842-2021 集成电路（IC）卡封装框架
全国集成电路标准化技术委员会
GB/T 5095.2303-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分：屏蔽和滤波试验 试验23c：连接器和附件的屏蔽效果 线注入法
全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
GB/T 39560.2-2020 电子电气产品中某些物质的测定 第2部分：拆解、拆分和机械制样
全国电工电子产品与系统的环境标准化技术委员会
GB/T 39560.301-2020 电子电气产品中某些物质的测定 第3-1部分：X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴
全国电工电子产品与系统的环境标准化技术委员会
